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左心室导管消融可导致脑栓塞

  既往曾有研究发现,基于导管的手术可给少数患者带来无症状且非常小的脑损伤。一项最新研究表明,接受左心室(LV)心内膜消融的患者存在较高的脑栓塞风险。

  研究者美国加州大学的GregoryMarcus及其同事共计入选18例拟行导管消融的室性心动过速(VT)及室性早搏(PVC)患者(其平均年龄为58岁,半数为男性,半数伴有高血压病史,大多数伴有已知血管疾病或心力衰竭),将其随机分为LV消融组(n=12)和对照组(n=6,接受右室RV消融),于消融前及消融一周内行脑核磁共振成像评估脑栓塞情况。结果发现,LV消融及RV消融后分别有7例(58%)和0例(0%)患者存出现脑栓塞,两组间存在显著差异(P=0.04)。在11例采用逆向技术进行LV消融患者中有7例(63%)至少出现了一处新发脑栓塞病变。

  鉴于目前尚无证据显示RV消融可导致新发脑损伤,研究者推测LV消融患者新发脑损伤率较高可能与其通常选择应用的经股动脉途径会将血管壁或心脏瓣膜中的血栓碎片带入至大脑中有关。研究者强调,虽然LV消融所致的新发脑栓塞并无症状及体检异常,但有研究提示上述小病变可导致轻微认知功能下降。因此,临床医生有必要为拟行LV消融的患者权衡利弊选择最佳治疗方案。未来,亟需进一步探讨LV消融增加脑栓塞风险的确切机制以及避免上述脑栓塞的最佳方法。

  圣约翰健康中心的ShephalDoshi评论认为,该研究虽仅入选18例患者,但脑栓塞事件发生率非常高,故具有重要意义。未来,有必要进一步研究制定导管消融尤其是是LV心内膜消融的脑栓塞预防策略,并进一步观察消融所致无症状脑栓塞的长期后遗症。

Circulation

(来源:《国际循环》编辑部)

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